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PlantScreen 高通量植物表型分析平臺在中國水稻研究所安裝運行
發布時間： 2023-06-15 點擊次數： 1043次北京易科泰植物表型團隊協助廠商PSI公司科學家Klára Panzarová博士完成了PlantScreen高通量植物表型分析平臺全面測試，以及歷時一周的理論講解、實驗技術分享、實驗操作和數據處理、上機練習等完整中英文售后服務，圓滿交付中國水稻研究所水稻生物育種全國重點實驗室。隨后稻田生態與資源利用團隊立即將該平臺投入水稻干旱脅迫自動高通量測量實驗，進行自動培養、自動傳送、自動成像測量、自動數據分析、實時遠程查看當前狀態及結果數據，迄今已連續運行15天，當前仍在長期連續實驗運行中。
北京易科泰生態技術有限公司謹向中國水稻研究所表示熱烈祝賀，并將繼續全力做好實驗技術支持與設備維護工作。
PSI公司同步發布快訊，并對易科泰表型團隊的支持工作表示感謝。
該平臺分為生長區（自動傳送系統）和測量區。生長區可控溫、控光、并對植株按照程序設定自動傳送至測量區進行測量和澆灌；測量區具備光適應室、FluorCam葉綠素熒光成像測量、可見光和短波紅外高光譜成像測量、RGB頂部和側面360度成像測量、自動稱重與澆灌功能。目前正在自動連續運行水稻干旱脅迫監測實驗：水稻幼苗進行干旱處理（DRY組），6月8日(第10天)下午復水；對照組（CK組）由PlantScreen自動定時定量澆灌，如下為階段性實驗結果：
葉綠素熒光成像：可自動運行Fv/Fm、Kautsky誘導效應、Quenching（葉綠素熒光淬滅）、Light curve（光響應曲線）、GFP等Protocols（測量程序），并在線分析不同ROI的50多個葉綠素熒光參數。本實驗中，兩組幼苗移栽后都有損傷，在1-3天內，隨著損傷修復，二者Fv/Fm_Lss參數逐漸上升；之后CK組參數值保持穩定，DRY組隨著脅迫加劇參數值逐步下降，6月8日復水后呈恢復趨勢，至今仍低于CK水平。
RGB頂部成像和360度側面成像：可自動計算植株3維形態參數，包括株型緊湊度、葉片細長度、旋轉對稱性、株高、面積、周長等圖像和曲線；以及色度分析圖像和曲線。CK組和DRY組RGB數據趨勢與葉綠素熒光成像參數變化趨勢一致。
近紅外及可見光（NIR）及短波紅外（SWIR）高光譜成像：可自動分析NDVI、PRI等十幾個植被指數包括水分含量指數圖像。實驗所得數據與FluorCam葉綠素熒光數據、RGB形態學數據變化趨勢一致。
